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Bienvenue sur la collection HAL du laboratoire CROMA
CROMA (Centre de Radiofréquences Optique et Micro-Nanoélectronique des Alpes), anciennement IMEP-LAHC, est une Unité Mixte de Recherche "UMR 5130" (CNRS / Grenoble INP / UGA / Université SAVOIE Mont-Blanc), fortement impliquée dans les recherches relatives à la micro et nano électronique, à la microphotonique, aux micro et nano-systèmes, aux microondes et optomicroondes.
Les activités de recherche sont regroupées autour de 3 équipes : Dispositifs HypeRfréquences pour l'Electronique durAble et les Milieux complexeS (DHREAMS), Composants Micro Nano Electroniques (CMNE) et PHOtonique, Térahertz et Optoélectronique (PHOTO).
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Notices
2 958
Mots clés
ZnO nanowires
Fdsoi
Magnetoresistance
Air-filled substrate integrated waveguide AFSIW
2DEG
Drain current
Authentication
Transistor MOS
Silicon carbide
HfO2
Low temperature
Variability
Nanowires
Microélectronique
Modélisation
ESD
FDSOI
DNA
Modeling
Variabilité
Metal gate
Z2-FET
TFET
MOSFET
Mobilité
Nanogenerators
Low-frequency noise
DRAM
TCAD
GaN
Mobility
Ion exchange
Capacitance
ZnO
Band-to-band tunneling
Fiabilité
Intégration 3D
Terahertz
Field effect transistors
Nanonet
Coplanar waveguide
Graphene
Modelling
Biosensor
Carrier mobility
MOS transistor
Caractérisation
Tunnel FET
BTI
Antenna
MOSFETs
Reliability
Nanostructures
Nanofil
Electrical characterization
Mosfet
Compact model
Sharp switch
A2RAM
Elemental semiconductors
Optique intégrée
Simulation
Low frequency noise
Interface trap density
Band modulation
Mechanical energy harvesting
Nanowire
FinFET
Energy harvesting
Mismatch
Pseudo-MOSFET
Coupling
SOI
1T-DRAM
Piezoelectricity
Characterization
AlGaN/GaN
Silicon-on-insulator SOI
Antenne
Metamaterials
Compact modeling
CMOS integrated circuits
Silicon nanowire
Radiofréquences
CMOS
Solar cell
Caractérisation électrique
Integrated optics
Rectenna
Threshold voltage
FD-SOI
Numerical simulation
Permittivity
Low-frequency noise LFN
Fd-Soi
SiGe
Silicon-on-insulator
Parameter extraction
Silicon
Optoelectronics